Реестр инновационных продуктов, технологий и услуг,рекомендованных к использованию в Российской Федерации
Продукт Номер в реестре: 344
Модули фотоэлектрические HVL [1] 
Гетероструктурные фотоэлектрические модули

Участник Банка инновационных решений

rating10
Эту страницу просматривали
Подробное описание
участник РИП
Модули фотоэлектрические работают на принципе прямого преобразования солнечного излучения в электроэнергию постоянного тока и предназначены для использования в сетевых и автономных системах электроснабжения
Технические характеристики

Фотоэлектрические параметры модулей при стандартных условиях измерения по ГОСТ Р МЭК 60904-1

Номинальная мощность                  

300 Вт

Напряжение холостого хода                      

43,2 В

Ток короткого замыкания                 

9,3 А

Напряжение при максимальной мощности

34,6 В

Ток при максимальной мощности

8,7 А

   

 

Температурные характеристики модулей

 

Температурный коэффициент номинальной мощности, %/К            

— 0,28

Температурный коэффициент напряжения холостого хода, %/К      

— 0,24

Температурный коэффициент тока короткого замыкания, %/К          

0,04

Максимальное допустимое напряжение в цепи последовательно соединенных модулей

1000В      

Условия эксплуатации                         

от -40°С до +40°С

Длина        

1671 см

Ширина       

1002 см

Вес

19 кг

Потребительские свойства
Гетероструктурные фотоэлектрические модули применяют при строительстве крупных объектов генерации, при строительстве и реконструкции объектов коммерческого, жилого строительства и объектов социального назначения в целях экономии электроэнергии, потребляемой из сети, а также автономного или резервного энергоснабжения; в качестве инновационного строительного материала, применяемого в фасадах, остеклении и кровле объектов нового строительства
Особенности технологии

Модули фотоэлектрические изготавливаются по новой технологии на основе гетероперехода HJT. Гетероструктурная технология HJT совмещает кристаллическую и тонкопленочную технологии исполнения солнечных элементов

Конкурентные преимущества

— КПД ячейки увеличено до 22 %;
 — мощность модуля составляет 300-320 Вт;
 — малая степень световой деградации; высокая эффективность в   условиях рассеянного и отраженного света

Нормативно-техническое обеспечение
(стандарты, сертификаты, разрешения)

Стандарты
АТМС.564181.001 ТУ «Модули фотоэлектрические»
СТО МОН 2.14-2017 «Зеленые стандарты в наноиндустрии. Модули фотоэлектрические. Требования к «зеленой» продукции и экологической безопасности по жизненному циклу»
ГОСТ 14254-96 (МЭК 529-89) Степени защиты, обеспечиваемые оболочками (код IP)
ГОСТ Р 57902-2017 (IEC/TS 62804-1:2015) Модули фотоэлектрические. Испытания на деградацию, вызванную высоким напряжением. Часть 1. Фотоэлектрические модули на основе кристаллического кремния
ГОСТ Р МЭК 60891-2013 «Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Методики коррекции по температуре и энергетической освещенности результатов измерения вольт-амперной характеристики»
ГОСТ Р МЭК 60904-1-2013 «Приборы фотоэлектрические. Часть 1. Измерение вольт-амперных характеристик»
ГОСТ Р МЭК 60904-2-2013 «Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным приборам»
ГОСТ Р МЭК 60904-3-2013 «Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 3. Принципы измерения характеристик фотоэлектрических приборов с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности наземного солнечного излучения»
ГОСТ Р МЭК 60904-5-2013 «Приборы фотоэлектрические. Часть 5. Определение эквивалентной температуры методом измерения напряжения холостого хода»
ГОСТ Р МЭК 60904-7-2013 «Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 7. Вычисление поправки на спектральное несоответствие при испытаниях фотоэлектрических приборов»
ГОСТ Р МЭК 60904-8-2013 «Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрических приборов»
ГОСТ Р МЭК 60904-9-2016 Приборы фотоэлектрические. Часть 9. Требования к характеристикам имитаторов солнечного излучения
ГОСТ Р МЭК 60904-10-2013 «Приборы фотоэлектрические. Часть 10. Методы определения линейности характеристик»
ГОСТ Р МЭК 61194-2013 «Системы фотоэлектрические автономные. Эксплуатационные характеристики»
ГОСТ Р МЭК 61215-2005 «Модули фотоэлектрические из кристаллического кремния наземные. Методы испытаний»
ГОСТ Р МЭК 61345-2013 «Модули фотоэлектрические. Испытания на воздействие ультрафиолетового излучения»
ГОСТ Р МЭК 61646-2013 «Модули фотоэлектрические тонкопленочные наземные. Порядок проведения испытаний для подтверждения соответствия функциональным характеристикам»
ГОСТ Р МЭК 61701-2013 «Модули фотоэлектрические. Испытания на коррозию в солевом тумане»
ГОСТ Р МЭК 61730-1-2013 «Модули фотоэлектрические. Оценка безопасности.Часть 1. Требования к конструкции»
ГОСТ Р МЭК 61730-2-2013 «Модули фотоэлектрические. Оценка безопасности.Часть 2. Методы испытаний»
ГОСТ Р МЭК 61853-1-2013 «Модули фотоэлектрические. Определение рабочих характеристик и энергетическая оценка. Часть 1. Измерение рабочих характеристик в зависимости от температуры и энергетической освещенности. Номинальная мощность»
ГОСТ Р МЭК 61853-1-2013 «Модули фотоэлектрические. Определение рабочих характеристик и энергетическая оценка. Часть 1. Измерение рабочих характеристик в зависимости от температуры и энергетической освещенности. Номинальная мощность»
ГОСТ Р МЭК 62093-2013 «Системы фотоэлектрические. Компоненты фотоэлектрических систем. Методы испытаний на стойкость к внешним воздействиям»
Методики измерений
Рег. № ФР.1.35.2011.11073, свид. № 50/11-01.00276-2008 «Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности эталонных солнечных элементов на основе наноструктурированных соединений с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ»
рег. № ФР.1.99.2015.22072, свид. № 51/18.12.15-01.00276-2014 «Тонкопленочные гетероструктуры фотоэлектрического модуля. Измерение параметров индивидуальных слоев методом просвечивающей электронной микроскопии»
рег. № ФР.1.35.2011.11075, свид. № 52/11-01.00276-2008 «Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности полимерфулереновых эталонных солнечных элементов с расширенным диапазоном спектральной чувствительности и эталонных солнечных элементов на основе технологии тонких пленок»
рег. № ФР.1.35.2011.11074, свид. № 51/11-01.00276-2008 «Методика измерений тока короткого замыкания полимерфулереновых эталонных солнечных элементов с расширенным диапазоном спектральной чувствительности и эталонных солнечных элементов на основе технологии тонких пленок»
рег. № ФР.1.35.2011.11072, свид. № 49/11-01.00276-2008 «Методика измерений тока короткого замыкания эталонных солнечных элементов на основе наноструктурированных соединений АIIIВV (GaAs) с использованием установки МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
рег. № ФР.1.31.2010.08567, свид. № 36/201010.11.2010 «Методика измерений эффективности преобразования солнечных элементов с использованием установки на основе имитатора солнечного излучения СТ200 метрологического комплекса «МК-СЭ»
рег. № ФР.1.31.2010.08566, свид. № 35/201010.11.2010 «Методика измерений тока короткого замыкания эталонных солнечных элементов в стандартных условиях с использлованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
рег. № ФР.1.31.2010.08565, свид. № 34/201010.11.2010 «Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности эталонных солнечных элементов в стандартных условиях с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
рег. № ФР.1.34.2010.08567, свид. № 36/201010.11.2010 «Методика измерений эффективности преобразования солнечных элементов с использованием установки на основе имитатора солнечного излучения СТ200 метрологического комплекса «МК-СЭ»
рег. № ФР.1.34.2010.08566, свид. № 35/201010.11.2010 «Методика измерений тока короткого замыкания эталонных солнечных элементов в стандартных условиях с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
рег. № ФР.1.34.2010.08565, свид. № 34/201010.11.2010 «Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности эталонных солнечных элементов в стандартных условиях с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»

Разрешения
Сертификат соответствия АНО «Наносертифика» РОСС RU.И750.НЖ02.000292 (Ссылка на документ https://www.startbase.ru/products/37291/documents/)
Сертификат соответствия «зеленой» инновационной продукции РОСС RU.И750.14НЖ04  (Ссылка на документ https://www.startbase.ru/products/37291/documents/)
Сертификат соответствия экологической безопасности № РОСС RU.04ЧГ.ЭС147 (Ссылка на документ https://www.startbase.ru/products/37291/documents/)
Сертификат соответствия ТР ТС 004/2011 «О безопасности низковольтного оборудования» (Ссылка на документ https://www.startbase.ru/products/37291/documents/)
Сертификат соответствия требованиям ГОСТ ISO 9001-2011 (ISO 9001-2008), ГОСТ Р 54338-2011 (Ссылка на документ https://www.startbase.ru/products/37291/documents/)
Сертификат соответствия международным стандартам IEC 61215 и 61730 (Ссылка на документ https://www.startbase.ru/products/37291/documents/)
Знак «Российская нанотехнологическая продукция»

Продукт заполнен на 80%